14:00-15:00 药用辅料物理指纹图谱的构建及应用

主讲人：李文龙 天津中医药大学 研究员

内容简介：

1、药用辅料的重要性及其性质参数的传统测定方法。

2、粉体/颗粒物理指纹图谱的构建及其快速转化方法。

3、药用辅料物理指纹图谱的评价及应用。

15:00-15:30 NexION系列ICPMS在药用辅料元素杂质研究中的分析方法与应用要点

主讲人：梁少霞 珀金埃尔默 原子光谱高级技术支持

内容简介：围绕NexION 系列 ICPMS 在药用辅料元素杂质研究中的分析方法与应用要点展开，聚焦 ICH Q3D 与《中国药典》合规要求，讲解多元素同步、高灵敏、高通量的元素杂质检测方案。结合 NexION 系列优异的基体耐受性与干扰消除能力，分享复杂辅料基质前处理、方法开发、验证要点与实操经验，提供可直接落地的痕量元素杂质精准测定方案，助力药用辅料质量控制与合规放行。

15:30-16:00 高精度、低残留顶空进样技术在制药行业中的应用

主讲人：刘泽宇 珀金埃尔默 高级色谱产品应用工程师

内容简介：围绕药用辅料分析检测及质量控制，介绍高精度、低残留顶空进样技术在制药行业的应用，该技术可有效降低交叉污染，提升挥发性杂质与残留溶剂检测灵敏度与稳定性，满足 ICH、USP 等药典要求。结合实际应用场景，展示其在提升分析精度、保障药品质量与合规性方面的实用价值，为制药质控提供高效可靠解决方案。