1月30日,清华大学材料学院杨文峰 Wenfeng Yang,沙浩治 Haozhi Sha,于荣 Rong Yu 等,在 Nature Nanotechnology 上发文,报道了一种局域轨道电子叠层衍射成像 local-orbital ptychography 方法,将物体描述为离散的类原子轨道函数(例如,高斯函数)和探针像差函数之和,从而提高了显微成像的信息极限,最高达到了14pm。
Local-orbital ptychography for ultrahigh-resolution imaging.
《局域轨道电子叠层衍射的超高精度成像》
高质量的探针和物体,有助于在低电子剂量下获得优异的信噪比,将致密材料的样品厚度限制放宽至50nm。该项方法具有将总相位分解为元素分量的能力,揭示了信息极限是元素相关的。
相比于传统成像方法,这种局域轨道电子叠层衍射成像成像方法,具有更高的空间分辨率、信噪比和厚度阈值,可以应用于金属、陶瓷、电子器件或光束敏感材料的原子分辨率成像。
图1:局域轨道电子叠层衍射成像LOP,
local-orbital ptychography示意图。
图2:局域轨道电子叠层衍射成像LOP和传统像素化的叠层衍射成像 conventional pixelated ptychography,CPP重建的剂量依赖性。
图3:实验数据集上的图像重建。
图4:通过分离不同元素,获得的相位和衍射图。
文献:Yang, W., Sha, H., Cui, J. et al. Local-orbital ptychography for ultrahigh-resolution imaging. Nat. Nanotechnol. (2024).
(本文译自Nature)
今日新材料
展源
何发
2026-07-30
2026-08-18
2026-08-26
2026-08-14
2026-07-17
2026-06-30
《电子信息制造业发展 "十五五" 规划》将 "提升电子专用设备及测量仪器供给能力" 列为核心任务,明确示波器、网络分析仪、椭偏仪等量检测与测量仪器攻关方向,高端国产仪器替代再提速。
作者:牛亚伟
评论
加载更多