颗粒分析的方法很多,但没有一种技术能“通吃”所有样品。激光衍射、动态光散射、库尔特法、沉降法、筛分法、电镜法,是常见的主流方法;此外还有NTA、图像分析、X射线沉降、超声衰减谱、飞行时间法、场流分离等专项技术。
原理:颗粒越细,激光散射角越大;通过测量散射光的角度和强度分布,反演粒度分布。
典型范围:约0.01–3500 μm,常规覆盖0.1μm–3mm。
主要应用:工业界最主流的粒度方法。制药原料药与辅料、吸入制剂、水泥建材、矿物加工、粉末涂料、颜料、食品、化妆品乳液等,支持干法、湿法和在线测量。
原理:纳米/亚微米颗粒在液体中做布朗运动,散射光强度随时间涨落;通过自相关函数得到流体力学直径。
典型范围:约1nm–3μm。
主要应用:纳米颗粒和胶体体系的首选方法。纳米药物载体、蛋白质聚集体、疫苗佐剂、脂质体、聚合物胶束、纳米乳液等生物制药与胶体研究。
原理:颗粒逐个通过小孔,排开电解液产生电阻脉冲;脉冲幅度与颗粒体积成正比,实现计数和体积分布测量。
典型范围:约0.2–1600 μm;小孔径管可下探至约200 nm。
主要应用:颗粒与细胞计数、体积分析的经典方法。血细胞计数、注射液不溶性微粒检测、乳剂和混悬剂表征、粉末与磨料计数、细胞与微生物分析。
原理:颗粒在重力或离心力下沉降,沉降速度与粒径平方相关;通过测量不同时间的浓度或沉降量反推粒度分布。
典型范围:重力沉降约2–50 μm;离心沉降可延伸至亚微米甚至约0.01 μm。
主要应用:陶瓷原料、涂料与颜料、水泥、地质沉积物、土壤、金属粉末等。在陶瓷和涂料行业有长期标准方法积淀。
原理:用一系列不同孔径的标准筛,通过振动把颗粒按能否穿过筛孔进行物理分离,再称量各筛层质量得到粒度分布。
典型范围:约20 μm–100 mm;电成形微孔筛可下探至约5 μm,但细粒级可靠性下降。
主要应用:大颗粒物料分级与质控的行业标准手段。矿业、建材砂石水泥、冶金、化工、食品面粉糖咖啡、医药颗粒剂等。
原理:用聚焦电子束扫描或穿透样品,直接获得颗粒图像;通过图像测量单个颗粒尺寸,并观察形状、团聚和表面纹理。
典型范围:SEM对大于约50 nm的颗粒较适用;TEM分辨率更高,可测纳米级甚至近原子尺度。
主要应用:纳米材料、催化剂、颜料、石棉纤维、气溶胶颗粒等的形貌与尺寸参考表征;常作为纳米颗粒粒度测量的参考或仲裁手段。
原理:用激光照射液体中的纳米颗粒,视频记录每个颗粒的布朗运动轨迹,从单颗粒位移计算流体力学直径,并给出数量浓度。
典型范围:约10 nm–1 μm,部分仪器可至约2 μm。
主要应用:多分散纳米体系,如环境与食品基质中的纳米颗粒、细胞外囊泡、蛋白质聚集体、纳米药物载体。相比DLS,能从大颗粒背景中分辨弱散射小颗粒,并给出数量基准分布。
原理:用光学成像配合软件,对成百上千个颗粒批量测量,获得数量基准的粒度分布和形状参数,如长径比、圆度。
典型范围:通常约8 μm以上;动态图像分析统计抽样能力更强。
主要应用:需要同时看粒度和形状的工业颗粒质控,如磨料、催化剂、塑料颗粒、不规则颗粒。静态法适合高分辨率形状信息,动态法适合连续流动中的统计抽样。
原理:用X射线穿过正在沉降的悬浮液,通过透射强度变化追踪不同时间、不同深度的颗粒浓度,再按斯托克斯定律反演粒度分布。
典型范围:重力模式约0.5–100 μm;离心X射线模式可下探至约0.1–5 μm。
主要应用:陶瓷原料、金属粉末、矿物、氧化铝、石英等无机材料的标准化粒度分析,已有ISO和ASTM标准。
原理:超声波穿过颗粒悬浮液时,颗粒对声波的吸收和散射形成衰减谱;衰减谱形状与粒径、浓度相关,通过模型反演粒度分布。
典型范围:约10 nm–3 mm,跨越纳米至毫米级。
主要应用:高浓度、光学不透明悬浮液和乳状液的在线/原位监测。浓浆、涂料、陶瓷浆料、食品乳液、结晶过程等,体积浓度可达0.1%–50%,通常无需稀释。
原理:气溶胶颗粒在加速气流中,粒径不同则加速后速度不同;测量颗粒飞越两束激光已知距离的飞行时间,换算空气动力学直径。
典型范围:约0.2–700 μm,针对气溶胶颗粒。
主要应用:吸入制剂(DPI、pMDI)空气动力学粒度分布评价,直接关系药物肺部沉积部位;也用于环境气溶胶、雾化液滴和工业粉尘实时监测。
原理:在无固定填料的细长通道中施加垂直方向的场,如交叉流、离心、重力或热场;不同粒径颗粒平衡位置不同,按尺寸高分辨率分离,再联用DLS、NTA、紫外或示差检测器表征。
典型范围:理论上约1 nm–100 μm,尤其擅长复杂多分散体系分离。
主要应用:环境纳米颗粒、生物大分子与蛋白聚集体、聚合物微粒、细胞外囊泡等复杂基质;分离条件温和,对脆弱或易团聚软颗粒友好。
除以上分析方法,还有共振质量测量 (RMM)、单颗粒电感耦合等离子体质谱 (spICP-MS)等可用于颗粒分析,后续将逐个解析。
颗粒分析的关键不是“哪台仪器更高级”,而是样品体系、关注指标和法规要求是否匹配。先明确你要的是粒度分布、数量浓度、形状、空气动力学直径,还是复杂体系分离信息,再选方法,结果才靠得住。
颗粒分析技术
展源
何发
2026-09-01
2026-08-18
2026-08-26
2026-08-14
2026-08-18
2026-10-07
2026-08-31
评论
加载更多