什么是X射线荧光光谱法？

展源 2026-11-13

什么是X射线荧光光谱法？

相比其他分析技术，XRF具有许多优势。其速度较快。能够测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度。此外，其属于非破坏性技术，仅需制备少量样品甚至完全不需要制备样品，因此，其相比其他技术成本较低。这也就是为什么全球这么多人选择使用XRF技术进行日常的材料分析工作。

一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。 X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。

然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。 利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。 在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素（F）到92号元素（U）。

1、X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。

2、每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。

3、根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。

X射线荧光分析仪的优点：

内容来源：材料基

责任编辑：展源

审　　核：何发